厚度測量儀器的類型

厚度測量儀有兩種類型：接觸式和非接觸式。

1. 接觸式

接觸式測厚儀具有價格便宜、方便、易于目視檢查等優(yōu)點。但由于是接觸式，必須注意避免被測物體損壞或變形而產(chǎn)生誤差。我們將介紹卡尺和超聲波測厚儀，它們是典型的接觸式測厚儀。

游標

卡尺 可以測量長度、外徑、內(nèi)徑、深度、臺階高度的測量儀器，具有稱為主尺和游標尺的刻度。有模擬式、表盤式和數(shù)字式，其中數(shù)字式由于易于檢查數(shù)值而被廣泛使用。操作簡單，只需將鉗口滑開，慢慢插入待測物體，即可檢查數(shù)值。

超聲波測厚儀

超聲波測厚儀用超聲波照射被測物體，根據(jù)超聲波的傳播時間計算出被測物體的厚度。超聲波從探頭（探頭或換能器）發(fā)射并與待測物體的表面接觸。

通過測量從探頭發(fā)射的超聲波在與物體接觸面相反的表面反射并返回到探頭的傳播時間來計算厚度。使用以下公式計算厚度。

　　厚度d=1/2×被測物體的聲速c×傳播時間t

此時，由于傳播時間t為往返時間，因此乘以1/2即可計算出單程時間，即被測物體的厚度。

2.非接觸式

非接觸式厚度測量裝置是一種大型裝置，但其優(yōu)點是可以在不損壞被測物體的情況下進行測量。非接觸式測厚儀有紅外式、輻射式、激光位移傳感器式等。

紅外線式

紅外線式測厚儀是利用紅外線透過某些材料的特性來測量厚度絕對值的測量裝置。當紅外光照射到被測物體上時，被紅外照射面和相反的背面反射。探頭接收這些反射光，并根據(jù)反射光的時間差（干涉差）計算厚度。

輻射式

輻射式測厚儀通過測量被測物體吸收的輻射量來計算厚度。輻射測厚儀被用在許多產(chǎn)品中，因為這種吸收不受被測物體色調(diào)的影響。

輻射的類型包括α射線、β射線、伽馬射線和X射線，但原理都是相同的。將放射線照射到待測物體上，測量物體的吸收（衰減）量并轉換為厚度。選擇適合待測物體的輻射類型。下面列出了適合每種輻射源的材料。

α射線…聚合物薄膜

β射線…金屬薄膜、橡膠、塑料等

γ射線/X射線…金屬板等

激光位移傳感器型

激光位移傳感器型厚度測量儀使用一個或兩個激光位移傳感器來計算厚度。使用一臺激光位移傳感器時，根據(jù)物體正面和背面反射光的差異計算厚度。當使用兩個激光位移傳感器時，將待測物體放置在它們之間，并根據(jù)透射光的差異計算厚度。

當使用兩個激光位移傳感器時，測量夾在中間的激光位移傳感器的上、下參考面到工件表面的距離，并從參考面之間的距離中減去該距離，即可得出工件的厚度。計算出來的。

厚度d=基準面之間的距離d0-（基準面上方到被測物體表面的距離d1+基準面下方到被測物體表面的距離d2）